單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告

時(shí)間：2020-10-07 18:34:26 報(bào)告我要投稿

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　　綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題（可與實(shí)驗(yàn)名稱不同）

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　　一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>

　　二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。

　　三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試：

　�。ㄒ唬⿲�(shí)驗(yàn)內(nèi)容。

　�。ǘ⿲�(shí)驗(yàn)電路：畫出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。

　�。ㄈ⿲�(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟：

　　（1）對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析，理出完成實(shí)驗(yàn)的`設(shè)計(jì)思路。（2）列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧SP、內(nèi)部RAM、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問題。

　　（3）畫出程序設(shè)計(jì)流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。

　�。�4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫出實(shí)驗(yàn)程序。

　�。�5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。

　　A、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。

　　B、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點(diǎn)等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。

　　C、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。

　　D、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯(cuò)的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。

　�。ㄋ模⿲�(shí)驗(yàn)調(diào)試過程中所遇到的問題、解決問題的思路和解決的方法。

　　四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。

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